Σύστημα μέτρησηςASML
YieldStar S-200B
Σύστημα μέτρησης
ASML
YieldStar S-200B
Έτος κατασκευής
2011
Κατάσταση
Μεταχειρισμένο
Τοποθεσία
Dresden 

Προβολή φωτογραφιών
Εμφάνιση χάρτη
Στοιχεία για το μηχάνημα
- Περιγραφή μηχανήματος:
- Σύστημα μέτρησης
- Κατασκευαστής:
- ASML
- Μοντέλο:
- YieldStar S-200B
- Έτος κατασκευής:
- 2011
- Κατάσταση:
- πολύ καλή (μεταχειρισμένο)
- λειτουργικότητα:
- πλήρως λειτουργικό
Τιμή & Τοποθεσία
Λεπτομέρειες προσφοράς
- ID Καταχώρησης:
- A19967480
- Αριθμός Αναφοράς:
- DV10125
- Τελευταία ενημέρωση:
- στις 10.09.2025
Περιγραφή
Οπτικό σύστημα μετρολογίας επικάλυψης (Overlay), Advanced Semiconductor Materials Lithography, αυτόνομο σύστημα μετρολογίας επικάλυψης για δίσκους 300 mm, YieldStar S 200B
Μοντέλο: S200B
Τύπος: YieldStar
Έτος κατασκευής: 2011
Chodpfsxbnt Eex Aazoc
Τεχνικά χαρακτηριστικά:
Μέγεθος δίσκου: 300 mm (12")
Πηγή λέιζερ: LPPS, υδρόψυξη
Γενικά:
Το YSS200B είναι ένα οπτικό σύστημα μέτρησης επικάλυψης, που χρησιμοποιείται για γρήγορη και εξαιρετικά ακριβή μέτρηση αποκλίσεων επικάλυψης σε δίσκους 300 mm – συνήθως για επιτήρηση μετά την χάραξη στη διαμόρφωση του παραγωγικού κύκλου ως αυτόνομο σύστημα.
Η διαφήμιση μεταφράστηκε αυτόματα και ενδέχεται να περιέχει ορισμένα σφάλματα μετάφρασης.
Μοντέλο: S200B
Τύπος: YieldStar
Έτος κατασκευής: 2011
Chodpfsxbnt Eex Aazoc
Τεχνικά χαρακτηριστικά:
Μέγεθος δίσκου: 300 mm (12")
Πηγή λέιζερ: LPPS, υδρόψυξη
Γενικά:
Το YSS200B είναι ένα οπτικό σύστημα μέτρησης επικάλυψης, που χρησιμοποιείται για γρήγορη και εξαιρετικά ακριβή μέτρηση αποκλίσεων επικάλυψης σε δίσκους 300 mm – συνήθως για επιτήρηση μετά την χάραξη στη διαμόρφωση του παραγωγικού κύκλου ως αυτόνομο σύστημα.
Η διαφήμιση μεταφράστηκε αυτόματα και ενδέχεται να περιέχει ορισμένα σφάλματα μετάφρασης.
ΈΓΓΡΑΦΑ
19967480-01.pdf (PDF)Προμηθευτής
Σημείωση: Εγγραφείτε δωρεάν ή συνδεθείτε, για να αποκτήσετε πρόσβαση σε όλες τις πληροφορίες.
Εγγεγραμμένο μέλος από το: 2014
Τηλέφωνο & Φαξ
+49 351 8... αγγελίες
Η αγγελία σας διαγράφηκε με επιτυχία
Παρουσιάστηκε σφάλμα