Σταθερή συσκευή ανάλυσης μετάλλων

Spectro SPECTROLAB F / LAVFC01A

Κατασκευαστής: SPECTRO Analytical Instruments GmbH & Co. KG
Τύπος: SPECTROLAB F / LAVFC01A
Έτος κατασκευής: 2004
Αριθμός έργου/παραγγελίας: 16996/04
Αριθμός εργαστηρίου: 116996-04
Σταθερή συσκευή ανάλυσης μετάλλων / Φασματόμετρο οπτικής εκπομπής (OES) για κράματα χαλκού

Σταθερή συσκευή ανάλυσης μετάλλων SPECTRO SPECTROLAB F για ποσοτική ανάλυση υλικών
μέσω οπτικής φασματομετρίας εκπομπής (OES / φασματομετρία σπινθήρα).
Σύμφωνα με την υπάρχουσα αυθεντική τεκμηρίωση, το σύστημα είναι σχεδιασμένο για ανάλυση
υλικών με βάση τον χαλκό. Είναι εγκατεστημένα και τεκμηριωμένα τα προγράμματα CU-00 για
τυποποίηση της βάσης του χαλκού, CU-20 για κράματα Cu/Zn και CU-70 για κράματα Cu/Al.
Το φασματόμετρο διαθέτει τρία τεκμηριωμένα οπτικά συστήματα και κανάλια μέτρησης για πολλά
στοιχεία κραμάτων και συνοδευτικά στοιχεία. Καταγράφονται, μεταξύ άλλων, τα Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni,
Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P και S.
Υπάρχει εκτενής αυθεντική τεκμηρίωση για τη συσκευή, συμπεριλαμβανομένων πρωτοκόλλων δοκιμών και
φωτοπολλαπλασιαστών, εγγράφων διαμόρφωσης, εγγράφων τυποποίησης καθώς και του
εγχειριδίου χρήσης για το λογισμικό Spark Analyzer Vision. Επιπλέον, υπάρχουν διάφορα
δείγματα επαναβαθμονόμησης/αναφοράς και εξαρτήματα.
Μια υπάρχουσα εκτύπωση ανάλυσης με ημερομηνία 20.12.2022 τεκμηριώνει την πρακτική χρήση του
συστήματος για ανάλυση υλικών CuZn40Pb2. Η εκτύπωση περιέχει τιμές μετρήσεων για πολλά
στοιχεία κραμάτων και ιχνοστοιχεία.

Χρησιμοποιημένη κατάσταση με σημάδια χρήσης λόγω ηλικίας και χρήσης.
Η συσκευή είναι κατασκευής 2004. Υπάρχει εκτενής, συγκεκριμένη τεκμηρίωση για τη συσκευή,
εξαρτήματα και δείγματα επαναβαθμονόμησης/αναφοράς. Η χρήση και η διεξαγωγή αναλύσεων
υλικών τεκμηριώνονται από τις υπάρχουσες εκτυπώσεις ανάλυσης του Δεκεμβρίου 2022.

Περιεχόμενα παράδοσης
• Συσκευή ανάλυσης μετάλλων SPECTRO SPECTROLAB F
• Υπάρχοντα δείγματα επαναβαθμονόμησης/αναφοράς
• Διάφορα δείγματα και πρότυπα
• Σετ καλωδίων ή υπάρχοντα καλώδια σύνδεσης
• Μικρά εξαρτήματα και αναλώσιμα
• Προσαρμογέας για μικρά εξαρτήματα
• Υπάρχουσες δισκέτες βοριονιτριδίου
• Υπάρχοντα εξαρτήματα SPECTRO
• Λογισμικό/μέσο δεδομένων, συμπεριλαμβανομένου του SPECTRO Data Backup
• Τεκμηρίωση και έγγραφα δοκιμών
• Εγχειρίδιο χρήσης Spark Analyzer Vision
• Έγγραφα για το DIA 2000 / DIA2000SE
• Πρωτόκολλα δοκιμών φωτοπολλαπλασιαστών
• Έγγραφα διαμόρφωσης και τυποποίησης
Οι υπολογιστές, οι οθόνες και οι εκτυπωτές αναφέρονται στα αρχικά έγγραφα παράδοσης.

Μέθοδος μέτρησης: Οπτική φασματομετρία εκπομπής (OES) / Φασματομετρία σπινθήρα
Εκτέλεση: Σταθερή συσκευή ανάλυσης μετάλλων
Σύστημα ανάγνωσης: MIKRO 8
Βαθμονόμηση: Βάση χαλκού
Εφαρμογές: Cu-20 / Cu-70
Τυποποίηση: CU-00 – Βάση χαλκού
Εγκατεστημένα προγράμματα:
CU-00 – Τυποποίηση Βάσης χαλκού
CU-20 – Κράματα Cu/Zn
CU-70 – Κράματα Cu/Al
Οπτικό σύστημα:
Bodpfxjzx Dwnj Akcjdg
1 × Οπτικό σύστημα UV, τεκμηριωμένο με 6 γραμμές
2 × Οπτικά συστήματα αέρα, τεκμηριωμένο με 13 / 7 γραμμές
Οπτικό σύστημα 1: 3600 / 750
Οπτικό σύστημα 2: 3600 / 750
Οπτικό σύστημα 3: 2400 / 750
Μονοχρωμάτης: Όχι
Πηγή διέγερσης: 3000 / 300 Hz / Καθαρό Ar
Τάση λειτουργίας: 230 V
Συχνότητα δικτύου: 50 Hz
Γλώσσα λειτουργίας: Γερμανικά
Τεκμηριωμένα στοιχεία:
Cu, Zn, Pb, Sn, Al, Fe, Ni, Si, Mn, Mg, Cr, Co, Cd, Sb, P, S

Φωτοπολλαπλασιαστής: κυρίως R6350, μεμονωμένα κανάλια UV R6351 σύμφωνα με τα έγγραφα δοκιμών
Λογισμικό σύμφωνα με την τεκμηρίωση: DIA 2000 Basis / DIA2000SE, Spark Analyzer Vision
Εγχειρίδιο Spark Analyzer Vision: Έκδοση 09/2004
Τεκμηριωμένη έκδοση λογισμικού: 1.40.0xx

Η αγγελία μεταφράστηκε αυτόματα. Ενδέχεται να υπάρχουν σφάλματα μετάφρασης.