Στοιχείο

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Έτος κατασκευής: 2025, Κατάσταση: καινούργιο, Σύστημα επιθεώρησης ακτίνων Χ για συσκευασίες μεσαίου μεγέθους, σακούλες. Κατάλληλο για την ανίχνευση ξένων σωμάτων από μέταλλο, γυαλί, πέτρα, πλαστικό κ.λπ. σε τρόφιμα ή μη. - Προδιαγραφές: Πλάτος μεταφορικής ταινίας: 410 mm; Ακρίβεια ανίχνευσης: Pb από Ø 0,2 mm, Fe από Ø 0,28 mm, SUS από Ø 0,28 mm, μη μεταλλικό όπως πέτρα, γυαλί, από Ø 1,2 mm. Ισχύς ακτίνων Χ: 80 kVp, 1,25 mA; Ανάλυση ανιχνευτή: 0,4 mm; Εκπομπές ακτίνων Χ: < 1usv/h; Ύψος μεταφορικής ταινίας: 850 ± 30 mm; Ταχύτητα μεταφορικής ταινίας (εξαρτάται από το προϊόν): 10 – 100 m/min; Διεπαφή χρήστη: Οθόνη αφής 15", Λογισμικό: intellisens®X-ray, Θερμοκρασία λειτουργίας: 5 – 35 °C, Σύστημα εξαγωγής: προαιρετικά διαθέσιμο σύμφωνα με τις απαιτήσεις, Ισχύς: 220 VAC, 50/60 Hz, Διαστάσεις συστήματος: L900xW920xH1825 mm, Βάρος: 350 kg. Iisdpfx Adsv Nm Inewek Λάβετε υπόψη ότι οι νέες τιμές μας είναι συχνά χαμηλότερες από τις συνηθισμένες τιμές μεταχειρισμένων. Απλώς ρωτήστε και πείτε μας την εργασία συσκευασίας σας. - Υπάρχουν συνήθως 30-50 διαφορετικά νέα μηχανήματα διαθέσιμα αμέσως από το απόθεμα. Επιπλέον, έχουμε πολύ σύντομους χρόνους παράδοσης περίπου 3 εβδομάδων για μηχανήματα που κατασκευάζονται σύμφωνα με τις προδιαγραφές του πελάτη. - Όλα τα μηχανήματα είναι διαθέσιμα με πλήρη εγγύηση.

Κατάσταση: Ελαττωματικός μεταφορέας ανταλλακτικών (μεταχειρισμένος), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 Αναλυτής Φθορισμού Ακτίνων Χ – Δότης ανταλλακτικών / ελαττωματικός Περιγραφή προϊόντος: Διατίθεται προς πώληση μεταχειρισμένος αναλυτής φθορισμού ακτίνων Χ τύπου Oxford Instruments X-Strata 960. Η συσκευή προέρχεται από αποσυναρμολόγηση εργαστηρίου και προσφέρεται αποκλειστικά ως δότης ανταλλακτικών ή για επισκευαστικούς σκοπούς. Δεν πραγματοποιήθηκε έλεγχος λειτουργίας – ως εκ τούτου, η συσκευή θεωρείται ελαττωματική στα πλαίσια της πώλησης. Τεχνικά χαρακτηριστικά – Oxford Instruments X-Strata 960 (μη δεσμευτικές πληροφορίες) Χαρακτηριστικό Περιγραφή Μοντέλο X-Strata 960 Κατασκευαστής Oxford Instruments Μέθοδος ανάλυσης Ανάλυση φθορισμού ακτίνων Χ (XRF) Πεδία εφαρμογής Μέτρηση πάχους επικαλύψεων, ανάλυση υλικών, έλεγχος πολύτιμων μετάλλων Γεωμετρία μέτρησης Εκπομπή από επάνω ή κάτω, ανάλογα με τη διαμόρφωση Πηγή ακτινοβολίας Λυχνία ακτίνων Χ (π.χ. άνοδος ροδίου), 50–100 W ισχύς Ανιχνευτής Μετρητής προπορσιονικός ή ανιχνευτής διολίσθησης πυριτίου (SDD), ανάλογα με την έκδοση Περιοχή μέτρησης Πάχος στρώσης περίπου 0,005 – 50 μm (ανάλογα το υλικό) Μέγεθος σημείου περίπου 15 μm – 1 mm (ανάλογα τον κολλιμάτορα) Άξονας Z Κινούμενος με κινητήρα, έως περίπου 230 mm ύψος μέτρησης Χώρος δειγμάτων (Π × Β × Υ) περίπου 580 × 510 × 230 mm Τραπέζι δειγμάτων Χειροκίνητο ή μηχανοκίνητο (200 × 200 mm ή μεγαλύτερο, ανάλογα με τον εξοπλισμό) Σύστημα εστίασης Οπτικό / εστίαση με λέιζερ, εν μέρει αυτόματο Λειτουργικό σύστημα Ενσωματωμένος βιομηχανικός υπολογιστής με λογισμικό αξιολόγησης βασισμένο σε Windows Τροφοδοσία 220–240 V / 50–60 Hz / περίπου 500–800 W Βάρος συσκευής περίπου 150–200 kg (ανάλογα την έκδοση) Κατάσταση: μεταχειρισμένο / ελαττωματικό / ως δότης ανταλλακτικών Περιεχόμενο παράδοσης: σύμφωνα με τις εικόνες – χωρίς αξεσουάρ ή λογισμικό Iedpfx Ashaapfedwoik Σημαντικές επισημάνσεις: Η πώληση γίνεται ρητά ως ελαττωματική συσκευή χωρίς εγγύηση λειτουργίας. Το προϊόν προσφέρεται ως δότης ανταλλακτικών ή για τεχνικούς-ιδιώτες. Δεν παρέχεται εγγύηση για λειτουργία, πληρότητα ή τεχνικά χαρακτηριστικά. Επαγγελματική πώληση με ρητή εξαίρεση κάθε εγγύησης για πραγματικά ελαττώματα, σύμφωνα με το § 447 BGB (πώληση με αποστολή). Περιεχόμενο παράδοσης: Oxford Instruments X-Strata 960 Όλα τα εξαρτήματα που φαίνονται στις εικόνες Άλλα μέρη, αξεσουάρ ή τεκμηρίωση δεν περιλαμβάνονται, εκτός εάν αναφέρεται ρητά. Αποστολή & παραλαβή: Παραλαβή δυνατή και προτιμότερη στο Borken Αποστολή κατόπιν συνεννόησης δυνατή. (Με επιφύλαξη αλλαγών και σφαλμάτων στα τεχνικά στοιχεία και τις πληροφορίες!) Για περαιτέρω ερωτήσεις είμαστε στη διάθεσή σας τηλεφωνικά.

Έτος κατασκευής: 2016, Κατάσταση: πολύ καλή (μεταχειρισμένο), Αυτόματη επιθεώρηση ακτίνων Χ Για την επιθεώρηση BGA, QFN, THT, LED, LGA και άλλων συγκολλήσεων, ορατών ή κρυφών. Άλλα χαρακτηριστικά: Συμπεριλαμβάνει σταθμό εκτός σύνδεσης και σταθμό επισκευής Λειτουργικό σύστημα: Windows 7 Ανιχνευτές CCD υπερυψηλής ταχύτητας με σάρωση γραμμής Περιοχή επιθεώρησης: 450 mm - 400 mm Λήψη εικόνας: 2D, 2.5D, 3D (εικόνες τομής με επίπεδο CT) Iiodpfx Aowpuadsdwjk Διαστάσεις PCB: 60 - 450 x 50 - 400 mm Ανάλυση AXI: 6 - 30 µm / px AOI: Οπτικό πεδίο κάμερας: 42 mm x 42 mm Ανάλυση: 21 µm Ύψος επιθεώρησης: -3 έως 7,5 mm Οπτικά: τηλεκεντρικά Ύψος μεταφοράς: 950 mm +/- 25 mm Διεπαφή: SMEMA Ρύθμιση πλάτους: αυτόματη

Έτος κατασκευής: 2016, Κατάσταση: έτοιμο προς χρήση (μεταχειρισμένο), Ένα νέο σύστημα επιθεώρησης ακτίνων Χ Anritsu είναι διαθέσιμο. Ισχύς ακτίνων Χ: 100 W, μέγιστο πλάτος ανίχνευσης: 240 mm, μέγιστο ύψος ανίχνευσης: 120 mm, ταχύτητα ανίχνευσης από 2kg έως 5kg: 10m-60m/min, ταχύτητα ανίχνευσης έως 2kg: 60m-90m/min, ταχύτητα ανίχνευσης από 5kg ατσάλι: 10m. x 255kg, ώρες λειτουργίας: λιγότερο από 50h. Το μηχάνημα δεν παρουσιάζει φθορά στον μεταφορικό ιμάντα ή στις κουρτίνες προστασίας από την ακτινοβολία. Διαθέσιμη τεκμηρίωση. Υπάρχει δυνατότητα επιτόπιου ελέγχου. Ijdpfx Adsvzr Auewjik

Κατάσταση: μεταχειρισμένο, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD X-ray Diffractometer (XRD) Excerpt from the service report: Device: PANalytical X’Pert PRO MPD Date: 07/07/2021 Performed works: - Reinstallation and commissioning of the system - Connection of external supply lines - Warm-up phase - Complete alignment of goniometer and additional components - Maintenance carried out incl. replacement of defective parts Spare parts used: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD FAN FOR X-CELERATOR UNIT FAN FILTER FILTER, WATER Motor PW3050 (Note: “Device not tested at our facility”) The X’Pert PRO MPD is a highly versatile and powerful X-ray diffractometer (XRD) for the structural characterization of crystalline materials. Perfect for pure research as well as for routine applications in industry and academia. Thanks to its modular design, rapid detection, and temperature and atmosphere control, it is ideally suited for both routine analyses and complex in-situ experiments. Key features: Various measurement geometries are possible: - Reflection in Bragg-Brentano (θ–2θ) mode - Transmission geometry for powders in capillaries - Optionally also SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) for nanostructures Radiation source and detectors: - Usually copper anode (Cu-Kα, λ ≈ 1.54 Å) - X’Celerator detector (1D, ultra-fast) for parallel data acquisition Modular system with PreFIX technology: - Fast exchange of optics and sample stages without recalibration In-situ measurements at high temperatures: - Measurements possible up to approx. 1200°C - Controlled atmosphere: air, nitrogen, oxygen (limited for reducing atmosphere) Iiodpfewycatex Adwsk Typical applications: - Phase analysis and quantitative Rietveld evaluation - Determination of crystallite size, microstrain, residual stresses - In-situ investigation of phase transitions, oxidation, crystallization, etc. - SAXS measurements for analysis of nanoparticles and pore structures - Wide sample spectrum: powders, thin films, ceramics, pharmaceuticals, catalysts, and more Technical data (typical): Property & Specification Angular range (2θ): approx. 0.5° to 150° Step size: up to 0.002° or finer Goniometer: vertical, 0–0, radius approx. 240 mm Temperature range: room temperature up to approx. 1200 °C Atmosphere: air, N₂, O₂ (limited reducing atmosphere) Detectors: X’Celerator (1D), proportional counter Distribution & fields of application: The X’Pert PRO MPD is in use worldwide, e.g. at: - Universities (ETH Zurich, TU Dresden, University of Vienna) - Research institutes (e.g. Max Planck Institutes, ICN2, IS2M) - Industry (e.g. materials development, pharma, chemistry) Condition: used Scope of delivery: (see image) (Specifications and technical details are subject to change and error!) If you have further questions, we will be happy to answer them by phone.

Κατάσταση: καλή (μεταχειρισμένη), Helmut Fischer Fischerscope μέτρηση πάχους στρώματος με φασματοσκοπία ακτίνων Χ φθορισμού XDL-XYmZ Iedpfsw Hbkdjx Adwjik