μετρητικό σύστημα

Zeiss FIB Auriga 60

Auriga 60: Υπολογιστικά ελεγχόμενο σύστημα σάρωσης ηλεκτρονίων πεδίου (FE-SEM) με κατοχυρωμένη τεχνολογία οπτικών ηλεκτρονίων GEMINI® και κάθοδο εκπομπής πεδίου, σχεδιασμένο για αναλυτικές εφαρμογές και απεικόνιση υψηλής ανάλυσης υπό συνθήκες υψηλού κενού.
Έτος κατασκευής: 2011
Τύπος στήλης FIB: Cobra FIB
Τύπος στήλης SEM: Εκπομπός πεδίου Schottky
Εγκατεστημένοι ανιχνευτές:
• SESI (εμπορικός)
• InLens
• ESB
• 4QBS (πνευματικός)
• STEM (πνευματικός)
• EDX X-MAX 80 mm (Oxford)
Fgedezz H I Iepfx Akcjg
• EBSD (HKL Channel 5)
• Αντιστάθμιση φόρτισης
Σύστημα έγχυσης αερίου: Πλατίνα
Αναφορά συντήρησης: Το σύστημα συντηρείται ετησίως και παρέχεται αναφορά συντήρησης κάθε φορά.
Ώρες λειτουργίας: 13.290,33 ώρες (με την τρέχουσα νηματώδη λάμπα)
Συμπεριλαμβάνονται υπολογιστής και λογισμικό: Ναι
Συμπεριλαμβανόμενα εξαρτήματα: Όλες οι αντλίες, τα συστήματα ψύξης και οι μονάδες ελέγχου περιλαμβάνονται, εκτός από τους αποσβεστήρες κραδασμών.
Έκδοση λογισμικού:
• SEM: SmartSEM, έκδοση 6.00 (9 Ιουνίου 2016)
• EDX: Πακέτο λογισμικού INCA – έκδοση 5.03
Τιμή: Διαπραγματεύσιμη τιμή, εξαιρουμένου του ΦΠΑ και των εξόδων μεταφοράς.

Η αγγελία μεταφράστηκε αυτόματα. Ενδέχεται να υπάρχουν σφάλματα μετάφρασης.