Μεταχειρισμένο Bruker Bmcp προς πώληση (4)

Κατάσταση: μεταχειρισμένο, Αφαιρέθηκε από λειτουργική μονάδα. Παρακαλούμε δείτε και τις άλλες αγγελίες μας. Kljdpfxowxax Dj Anueu

Κατάσταση: μεταχειρισμένο, Μπρούκερ Τύπος: τανυστήρας 27 Klodpfsvwcikox Anuju Φασματόμετρο IR Πλήρης ευελιξία δείγματος. Χάρη στον βελτιωμένο μηχανισμό QuickLockTM και το κουμπί κλειδώματος στο μπροστινό μέρος Ακόμη και ογκώδη αξεσουάρ μπορούν να εγκατασταθούν γρήγορα και, κυρίως, με ασφάλεια. Επιπλέον, το INVENIO μπορεί να εξοπλιστεί με τρεις εξόδους δέσμης ελεγχόμενες από λογισμικό για μια ποικιλία εξωτερικών μονάδων. Μικρο- και μακροεικόνα FPA Μεταβλητός εξωτερικός θάλαμος δειγμάτων (αριστερά και δεξιά) για μεμονωμένα πειράματα Σύζευξη οπτικών ινών με ανιχνευτές ινών για υγρά και στερεά σφαίρα ολοκλήρωσης Autosampler για υγρά μονάδα ανάλυσης υψηλής απόδοσης HTS-XT μονάδα ανάκλασης για το όριο φάσης αέρα-νερού Πολύ περισσότερο! Κατάσταση: μεταχειρισμένο Πεδίο παράδοσης: (Δείτε εικόνα) (Αλλαγές και λάθη στα τεχνικά στοιχεία, οι πληροφορίες επιφυλάσσονται!) Θα χαρούμε να απαντήσουμε σε οποιεσδήποτε περαιτέρω ερωτήσεις μπορεί να έχετε μέσω τηλεφώνου.

Κατάσταση: μεταχειρισμένο, Αυτή η καταχώρηση αφορά το φασματόμετρο μάζας Bruker microflex. Η μονάδα βρίσκεται σε πλήρως λειτουργική κατάσταση και είναι έτοιμη για άμεση χρήση. Το Bruker Microflex είναι φασματόμετρο μάζας τύπου MALDI-TOF (Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Time-of-Flight), το οποίο χρησιμοποιείται κυρίως για ταχεία ταυτοποίηση μικροοργανισμών, βιομορίων (όπως πρωτεΐνες και πεπτίδια) και πολυμερών. Ανήκει στη σειρά MALDI Biotyper της Bruker. Βασικά Μέρη: • Πηγή λέιζερ: Λέιζερ αζώτου ή στερεάς κατάστασης (συνήθως 337 nm UV) • Πηγή ιόντων: Θάλαμος κενού με πλάκα στόχου MALDI • Σωλήνας πτήσης: Μετράει τον χρόνο πτήσης των ιόντων • Ανιχνευτής: Μετατρέπει τους χρόνους άφιξης των ιόντων σε φάσμα μάζας • Πλάκα στόχου MALDI: Μεταλλική πλάκα για τοποθέτηση δειγμάτων με τη μήτρα Απλοποιημένη Λειτουργία: 1. Προετοιμασία: Ανάμειξη του αναλυόμενου με μήτρα MALDI (π.χ. α-κυανο-4-υδροξυκινναμικό οξύ). 2. Ιονισμός με λέιζερ: Το λέιζερ «χτυπά» τη μήτρα, ιονίζοντας το δείγμα. 3. Επιτάχυνση ιόντων: Τα ιόντα επιταχύνονται προς τον αναλυτή TOF. Kjdpfx Ansxhdxqsuslu 4. Ανίχνευση: Μετράται ο χρόνος πτήσης—τα μικρότερα ιόντα φτάνουν γρηγορότερα στον ανιχνευτή. 5. Φάσμα: Απεικόνιση του λόγου μάζας/φορτίου (m/z) ως προς την ένταση. Τεχνικά Χαρακτηριστικά (κατά προσέγγιση): • Διαστάσεις: Επιτραπέζιο μέγεθος (περίπου 80 εκ. πλάτος) • Βάρος: ~100–120 κιλά (ανάλογα με το μοντέλο/έκδοση) • Τροφοδοσία: Τυπική εργαστηριακή παροχή ρεύματος • Περιβάλλον: Απαιτεί καθαρό χώρο με σταθερή θερμοκρασία/υγρασία

Κατάσταση: πολύ καλή (μεταχειρισμένο), Τύπος: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (PC-SEM) Σύγχρονο, υψηλής ανάλυσης, ψηφιακό ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης με νεοσχεδιασμένη ηλεκτρονική οπτική και διαισθητικό, γραφικό περιβάλλον χρήστη (GUI) σε Microsoft Windows XP Professional. Εξοπλισμός συσκευής που περιλαμβάνει τα παρακάτω χαρακτηριστικά: Εύρος μεγέθυνσης: 5 X - 300.000 X Τάση επιτάχυνσης: 0,3 - 30 kV Κάθοδος με νήμα βολφραμίου (LaB6 κατόπιν επιλογής) Μεγάλο, πλήρως μηχανοκίνητο τραπέζι δείγματος με εκκεντρική κλίση, συμπεριλαμβανομένου γραφικής πλοήγησης στον φορέα δείγματος Εύκολη πλοήγηση δείγματος με Click-Center-Zoom Πλοήγηση μέσω εικόνας με 2 πλοηγούς Σχετική πλοήγηση συντεταγμένων Αποθήκευση και ανάκληση θέσεων δείγματος Ρυθμιζόμενο εύρος εικόνας της βάσης δείγματος Διόρθωση πεδίου εικόνας κατά την περιστροφή μέσω υπολογιστή για εκκεντρική περιστροφή Διόρθωση πεδίου εικόνας κατά την κλίση μέσω υπολογιστή για εκκεντρική κλίση Υπολογισμός της δυνατής γωνίας κλίσης με βάση τη γεωμετρία του δείγματος Αυτόματη παρακολούθηση εστίασης κατά την κίνηση του δείγματος στον άξονα Z Έξυπνοι διακόπτες ορίου για τους μηχανοκίνητους άξονες Διαδρομή τραπεζιού δείγματος: x=125mm y=100mm z=5 έως 80 mm (συνεχώς μεταβαλλόμενο) T = -10°C έως +90°C R = 360°C (ατέρμονη περιστροφή) Ανιχνευτής δευτερογενών ηλεκτρονίων για λειτουργία σε υψηλό κενό Καινοτόμος, υπερκωνικός φακός αντικειμένου που εγγυάται την υψηλότερη ανάλυση εικόνας ακόμη και σε μεγάλες γωνίες κλίσης Εγγυημένη ανάλυση στην εικόνα SE: 3 nm στα 30 kV και 15 nm στα 1 kV Ταυτόχρονη απεικόνιση ζωντανής εικόνας από πολλούς ανιχνευτές Εύκολη πλοήγηση δείγματος με χρήση Click-Center-Zoom Ισχυρές λειτουργίες μέτρησης εικόνων Λειτουργία εγγραφής βίντεο για δυναμικές διεργασίες Ευέλικτος θάλαμος δειγμάτων με πολλές δυνατότητες επεκτάσεων: ελεύθερα φλαντζώματα π.χ. για EDX, WDX, EBSD, καθοτοφωταύγεια κ.ά. Σύστημα αντλίας χαμηλής συντήρησης και χαμηλού θορύβου, αποτελούμενο από προαντλία, υψηλής απόδοσης διάχυσης χωρίς δονήσεις και ηλεκτρομαγνητικό σύστημα βαλβίδων Εκτενής προστασία από λανθασμένη χρήση και διακοπή εξωτερικών μέσων Kodpezd Ufasfx Anuolu Εργονομικό, ρυθμιζόμενο κατά ύψος τραπέζι συστήματος REM-Starterkit που αποτελείται από 2 φορείς δειγμάτων, σετ εργαλείων και 6 ανταλλακτικές καθόδους Πρόσθετος εξοπλισμός: Τουρμπομοριακή αντλία αντί της στάνταρ διάχυσης Όταν χρησιμοποιείται τουρμπομοριακή αντλία, το SEM δεν χρειάζεται πλέον ψυκτικό νερό για τη λειτουργία. Περαιτέρω εξοπλισμός SEM: PC για τον έλεγχο του SEM περιλαμβάνει οθόνη TFT ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-σύστημα EXTENDED Το λογισμικό Bruker EDX θα μεταφερθεί στον νέο ιδιοκτήτη μετά την αγορά! Ενεργειακά διασπειρόμενο σύστημα ανάλυσης ακτίνων Χ χωρίς άζωτο Περιλαμβάνει: Ανιχνευτή SDD με ενεργειακή ανάλυση 127 eV ή καλύτερη Ανίχνευση όλων των στοιχείων από βόριο και άνω Αθόρυβο, χωρίς συντήρηση, ψύξη Peltier (χωρίς άζωτο) Επεξεργαστής παλμών Οθόνη TFT Μέτρηση φασμάτων και ταυτοποίηση στοιχείων Πλήρως αυτόματη, ποσοτική, χωρίς πρότυπο ανάλυση στοιχείων Εισαγωγή εικόνας Υπεργρήγορη ποιοτική γραμμική σάρωση Υπεργρήγορη ποιοτική χαρτογράφηση στοιχείων Σύστημα διαχείρισης και αρχειοθέτησης δεδομένων Δημιουργία αναφορών και παραγωγή αποτελεσμάτων Επικοινωνία δεδομένων Εγκατάσταση και εκπαίδευση HyperMap Ανάλυση πολλαπλών σημείων Ανιχνευτής Bruker xFlash (SDD) με μονάδα επεξεργασίας σήματος SVE ΙΙΙ Περιεχόμενα παράδοσης: (βλέπε φωτογραφίες) Κατάσταση: μεταχειρισμένο / used (Ενδέχεται να υπάρξουν αλλαγές και σφάλματα στα τεχνικά δεδομένα, επιφυλάσσεται κάθε δικαίωμα!)